Analiza składu i grubości powłok metodą spektroskopii rentgenowskiej

Pomiary grubości powłok i analiza materiałowa wykonywane są przy pomocy urządzenia FISHERSCOPE® X-RAY XDV -SD. Jest to wysokowydajny spektrometr pracujący w oparciu o metodę fluorescencji rentgenowskiej z rozproszeniem energii (ED-XRF – Energy Dispersive X-Ray Fluorescencje). Do interakcji z użytkownikiem wykorzystywany jest program WinFTM®. To oprogramowanie jest oparte na metodzie parametrów podstawowych co sprawia, że zastosowanie metody fluorescencji rentgenowskiej jest proste i różnorodne. ED-XRF jest metodą nieniszczącą wymagającą niewielkiego lub nie wymagającą żadnego przygotowania próbek, nadającą się do próbek stałych, sproszkowanych lub ciekłych, obejmującą szeroki zakres pierwiastków od małych liczb atomowych do uranu (Z=92) i mierzącą bez problemu koncentrację od ok. 0,1 do 100 procent.

Widmo uzyskane przy pomocy spektrometru